图10-24给出了在调制斜入射频谱法中信号的处理过程。图10-24a为垂直入射条件下的时域反射信号。图10-24b给出了在垂直入射的条件下,对于半个调制循环周期经过反卷积处理后的一组典型频谱。谐振极小值的移动用虚线箭头表示。由这些频谱,进一步得到调制谐振频率 与调制时间的关系曲线,如图10-24c所示。最后,从该调制信号中获得调制频谱,如图10-24d所示。在调制频谱中,基于粘接质量良好的涂层的频率极小值,对频谱极小值移动量进行归一化处理。在50Hz处的第一个谐波调制振幅 ,表示在附加了外部调制应力的条件下,谐振频率 的振幅。在100Hz处的第二个谐波调制振幅 ,表示了谐振频率 的移动量与调制应力之间的非线性关系。
图10-25给出了三种不同粘接状态的调制频谱。在20mm×50mm区域内,按照双声束反射模式进行扫描,其扫描结果(调制指数)通过不同级别的灰度图像来表示,如图10-26a、b所示。灰度图像表示在50Hz条件下的一次谐波调制振幅,较暗区域表示频率调制指数较高。图10-26a、b分别对应垂直入射和斜入射的情况。在两种图像中,都出现了从粘接质量劣化区域(右侧底部“D”标注的区域)到良好粘接区域(左侧顶部“G”标注的区域)的过渡。图中的对比度非常高,其调制指数从1%~0.01%变化。从图中可以看出,破坏是从边缘区域(“D”标注的区域)向内部发展。“G”标示的区域代表了无损伤的区域。这个结果与高分辨率的C扫描成像结果相一致(50MHz聚焦C扫描,这里没有给出图像)。
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